Журналы
Разделы книг
Статьи по ключевому слову потеря качества изображения
Применение обобщенных атомарных вейвлетов в задачах обработки изображений

М.А. Крячко1

1 Санкт-Петербургский государственный университет аэрокосмического приборостроения (Санкт-Петербург, Россия)

1 ООО «Лукойл-Технологии» (Москва, Россия)

1mike_kr@mail.ru