Журналы
Разделы книг
Статьи по ключевому слову оптический профилометр
Методика измерения параметров наноразмерных объектов
С.С. Анцыферов - д.т.н., профессор, Московский государственный университет информационных технологий, радиотехники и электроники. E-mail: c_standard@fel.mirea.ru Д.А. Карабанов - аспирант, Московский государственный университет информационных технологий, радиотехники и электроники. E-mail: karabanov.d.a@gmail.com Д.А. Моисеева - магистрант, Московский государственный университет информационных технологий, радиотехники и электроники. E-mail: Dashamoi@mail.ru