Дж. Фоукзон1, А.А. Потапов2, Е.Р. Менькова3

1 Израильский технологический институт (г. Хайфа, Израиль)

2 ИРЭ им. В.А. Котельникова РАН (Москва, Россия);
Совместная китайско-российская лаборатория информационных технологий
и фрактальной обработки сигналов (Университет Гуанчжоу, Китай)

3 ФГУП «Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений»
Росстандарта (Москва, Россия)