Журналы
Разделы книг
Статьи по ключевому слову модель накопления повреждений
Статистическая модель повреждения цифровых интегральных микросхем импульсным радиоизлучением
А.В. Ключник - к.ф-м.н., начальник отдела ФГУП «Московский радиотехнический институт РАН». E-mail: kluch-1@yandex.ru А.В. Солодов - магистр, науч. сотрудник. ФГУП «Московский радиотехнический институт РАН». E-mail: ASolodovMRTI@yandex.ru