Дж. Фоукзон¹, А.А. Потапов², Е.Р. Менькова³

1 Израильский технологический институт (г. Хайфа, Израиль)

2 ИРЭ им. В.А. Котельникова РАН (Москва, Россия);

3 ФГУП «Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений»  Росстандарта (Москва, Россия)