Дж. Фоукзон¹, А.А. Потапов², Е.Р. Менькова³

1 Израильский технологический институт (г. Хайфа, Израиль)

2 ИРЭ им. В.А. Котельникова РАН (Москва, Россия);

3 ФГУП «Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений»  Росстандарта (Москва, Россия)

Г.Б. Итигилов1, Д.Ш. Ширапов2, В.А. Кравченко3

1–3 Восточно-Сибирский государственный университет технологий и управления (г. Улан-Удэ, Россия)

1 gablz@mail.ru; 2 shir48@mail.ru; 3 krawyach@mail.ru