350 руб
Журнал «Наукоемкие технологии» №2 за 2012 г.
Статья в номере:
Спектрометрия линейной и нелинейной дрейфовой подвижности ионов органических соединений
Ключевые слова: поверхностная ионизация источник ионов дрейф-спектрометрия термодезобционная температура
Авторы:
В.И. Капустин - профессор, кафедра ТОРЭ, МИРЭА. E-mail: Lapustin@mirea.ru С.А. Солнцев - аспирант, кафедра ТОРЭ, МИРЭА. E-mail: SSolntsev@inbox.ru
Аннотация:
Разработан макет поверхностно-ионизационного дрейф-спектрометра и методики экспериментальных исследований, позволяющие определять параметры линейной и нелинейной дрейфовой подвижности ионов и параметры термической десорбции органических соединений с материала носителя проб. Экспериментально определены значения линейной и нелинейной дрейфовой подвижности ионов органических соединений, параметры термодесорбции органических соединений для модельного набора органических соединений на основе азота, серы, фосфора и мышьяка
Страницы: 47-55
Список источников
  1. Matsaev V., Gumerov M., Krasnobaev L., et al. IMS spectrometers with radioactive, X-ray, UV and laser ionization // Int. Jour. For Ion Mobility Spectr. 2002. V. 5. № 3. P. 112 - 114.
  2. Buryakov I.A. Ion mobility increment spectrometer with radial symmetry // Int. Jorn. For Ion Mobility Spectr. 2003. V. 6. Р. 121 - 126.
  3. Буряков И.А. Явления переноса ионов в газе в электрическом поле. Спектрометрия приращения ионной подвижности. Автореферат дисс?. докт. физ.-мат. наук. Новосибирстк. 2005. 32 с.
  4. Филиппенко А.А., Малкин Е.К. Исследование влияния условий ионизации на масс-селективные распределения подвижности ионов тротила и гексогена методом спектрометрии ионной подвижности/тандемной масс-спектрометрии // Масс-спектрометрия. 2010. Вып. 7(3). С. 205 - 212.
  5. Банных О.А., Поварова К.Б., Капустин В.И. Новый подход к поверхностной ионизации и дрейф-спектрометрии органических соединений // ЖТФ. 2002. Т. 72. Вып. 12. С. 88 - 93.
  6. Новое в исследовании поверхности твердого тела / под ред. Т. Джайядевайя, Р. Ванселова. М.: Мир. 1977. Вып. 2. С. 376.