350 руб
Журнал «Наукоемкие технологии» №7 за 2011 г.
Статья в номере:
Электронная структура ионно-модифицированных материалов. Часть 2: рентгеновская спектроскопия
Ключевые слова: рентгеновская спектроскопия остовные уровни эмиссионные L-спектры переход Косте-ра? Кронига химическая связь электронная структура эффекты мультиплетности парциальная и полная плотность электронных состояний синхротронное излучение ультрамягкая рентгеновская спектроскопия
Авторы:
Д.А. ЗАЦЕПИН - к.ф-м.н., ст. научн. сотрудник, Институт физики металлов Уральского отделения РАН (г. Екатеринбург). E-mail: nexcom@list.ru А.С. СИГОВ - чл.-корр. РАН, ректор, Московский государственный институт радиотехники, электроники и автоматики (технический университет). E-mail: assigov@yandex.ru Э.З. КУРМАЕВ - д.ф.-м.н., гл. научн. сотрудник, Институт физики металлов Уральского отделения РАН (г. Екатеринбург). Е-mail: kurmaev@ifmlrs.uran.ru
Аннотация:
Рассмотрены физические основы метода рентгеновской спектроскопии. Описаны его достоинства благодаря применению синхротронного излучения для возбуждения рентгеновской L-эмиссии применительно к исследованию низкоразмерных структур и наноструктурированных материалов. Приведен анализ ключевых научных работ в рассматриваемой области.
Страницы: 3-9
Список источников
  1. Зацепин Д.А., Сигов А.С., Курмаев Э.З. Электронная структура ионно - модифици-рованных материалов. Часть 1: Полупроводниковые системы // Наноматериалы и наноструктуры. 2011. Т. 2. № 1. С. 3-15.
  2. Боровский И.Б. Физические основы ренгеноспектрального анализа. М.: Наука. 1973.
  3. Курмаев Э.З., Черкашенко В.М., Финкельштейн Л.Д.  Рентгеновские спектры твердых тел. М.: Наука. 1988.
  4. Krause M.O. Atomic Radiative and Radiationless Yields for K and L Shells // J. Phys. Chem. Ref. 1979. V. 8. Р. 307-327.
  5. Demchenko I.N., Lawniczak-Jabloska K., Zhuravlev K.S. Local microstructure of Ge layers buried in a silicon crystal studied by extended X-ray absorption fine structure // J. Alloys and Compounds. 2004. V. 362. Issue 1-2. Р. 156-161.
  6. Erenburg S.B., Bausk N.V., Nikiforov A.I. // Proc. of 5th ISTC SAC Seminar on Nanotechnologies in the area of physics, chemistryand biology.2002. V. 1. Р. 277-276.
  7. Домашевская Э.П., Терехов В.А., Кашкаров В.М., Мануковский Э.Ю., Турищев С.Ю., Молодцов С.Л., Вялых Д.В., Хохлов А.Ф., Машин А.И, Шенгуров В.Г., Светлов С.П., Чалков В.Ю. Синхротронные исследования особенностей электронно-энергетического спектра кремниевых структур. // Физика твердого тела. 2004. Т. 46. Вып. 2. С. 335-340.
  8. Grigoriev D., Hanke M., Schmidbauer Ì., Schäfer P., Konovalov O., Köhler R.Grazing incidence x-ray diffraction at free-standing nanoscale islands: fine structure of diffuse scattering // J. Phys. D: Appl.Phys. 2003. V. 36. Р. A225-A230.
  9. Kurmaev E.Z., Stadler S., Ederer D.L., Harada Y., Shin S., Grush M.M., Callcott T.A., Perera R.C.C., Zatsepin D.A., Ovechkina N.A., Kasai M., Tokura Y., Takahashi T., Chanrdasekaran K., Vijayaraghavan R., Varadaraju U.V. Electronic Structure of Sr2RO4: X-ray fluorescence emission study // Phys. Rev. B. 1998. V. 57. No. 3. Р. 1558-1562.
  10. Kurmaev E.Z., Bartkowski S., Neumann M., Stadler S., Ederer D.L., Galakhov V.R., Yarmoshenko Yu.M., Solovyev I.V., Trofimova V.A., Zatsepin D.A. Electronic Structure of  Ternary Transition Metal Oxides and Sulphides: X-ray Photoelectron and X-ray Emission Spectroscopy Study // J. Electron Spectros. Rel. Phenom. 1998. V. 88. Р. 441-447.