350 руб
Журнал «Нелинейный мир» №2 за 2015 г.
Статья в номере:
Бесконтактный метод измерения проводимости тонких пленок
Авторы:
Б.Д. Зайцев - д.ф.-м.н. зав. лабораторией, Саратовский филиал ИРЭ им. В.А. Котельникова РАН А.А. Теплых - к.ф.-м.н., ст. науч. сотрудник, Саратовский филиал ИРЭ им. В.А. Котельникова РАН А.М. Шихабудинов - к.ф.-м.н., науч. сотрудник, Саратовский филиал ИРЭ им. В.А. Котельникова РАН. Е-mail: alex-sheih@ya.ru И.Е. Кузнецова - д.ф.-м.н. вед. науч. сотрудник, ИРЭ им. В.А. Котельникова РАН
Аннотация:
Разработан бесконтактный метод измерения проводимости тонких пленок при помощи линии задержки на SH0 волнах изготовленной на основе Y-среза пластины ниобата. Установлено, что при расположении над поверхностью линии задержки между встречно-штыревым преобразователем (ВШП) диэлектрической пластины с тонкой проводящей пленкой фаза выходного сигнала существенно изменяется, причем степень изменения уменьшается с ростом ширины зазора между ними. Проводимость исследуемых пленок менялась в пределах от 1 См до 1 мкСм.
Страницы: 60-61
Список источников

 

  1. Kuznetsova I.E., Zaitsev B.D., Anisimkin V.I., Teplykh A.A., Shikhabudinov A.M., Kolesov V.V., Yakunin V.G. Noncontact determination of thin films conductance by the SH0 plate acoustic waves // Journal of Applied Physics. 2014. V. 115. №4. 044504.
  2. Borodina I.A., Zaitsev B.D. Kuznetsova I.E. Acoustic Waves in a Structure Containing Two Piezoelectric Plates Separated by an Air (Vacuum) Gap // Trans. on Ultrason., Ferroel. and Freq. Control. 2013. V. 60. №12. P. 2677-2681.