350 руб
Журнал «Нелинейный мир» №6 за 2014 г.
Статья в номере:
Многоуровневая фрактальная модель для характеристики объектов
Авторы:
Е. В. Егорова - к.т.н., доцент, кафедра «Телекоммуникационные системы», МГТУ МИРЭА. Е-mail: calipso@dubki.ru
Аннотация:
Рассмотрен метод покрытий в анализе текстур изображений. Выявлено, что оценка фрактальной размерности определяется наклоном, порождаемым первым и последним масштабами, в то время как промежуточные масштабы не дают вклада в расчеты. Установлено, что метод имеет морфологическое осуществление и дает возможность использовать расчетные преимущества морфологической обработки данных; предложенный метод определен в рекурсивной форме и позволяет вести расчеты при больших массивах данных.
Страницы: 32-35
Список источников

  1. Потапов А.А. Фракталы в радиофизике и радиолокации: Топология выборки. Изд. 2-е, перераб.и доп. М.: Университетская книга. 2005. С. 848.
  2. Peli O. Multiscale Fractal Theory and Object Characterization// Opt. Soc. Am. A. 1990. V. 7. P. 1101-1112.
  3. Peleg S., Naor J., Hartely R., Avnir D. Multiple Resolution Texture Analysis and Classification//IEEE Trans. 1984. V. PAMI-6.P. 518-523.
  4. Carlotto M., Stein M.C. Detecting Man-Made Change in Imagery// Proc. Soc. Photo-Optical Instruments Engineering. 1985. V. 1002. P. 6-11.
  5. Serra J. Image Analysis and Mathematical Morphology. L.: Academic Press. 1982.
  6. Потапов А.А. Фракталы в дистанционном зондирование // Зарубежная радиоэлектроника. Успехи современной радиоэлектроники. 2000. № 6. С. 3-65.
  7. Аветисов А.С., Карпов М.А., Юрков М.В., Егорова Е.В., Нефедов В.И., Харитонов А.Ю. Математическое и программное обеспечение фрактального распознавания природных и искусственных объектов // Электромагнитные волны и электронные системы. 2012. Т.17. № 8. С. 45-48.