350 руб
Журнал «Нейрокомпьютеры: разработка, применение» №3 за 2012 г.
Статья в номере:
Особенности тестирования средств биометрико-нейросетевой аутентификации пользователей телекоммуникационной системы Министерства образования и науки Российской Федерации
Авторы:
В.И. Волчихин - д.т.н., профессор, ректор, Пензенский государственный университет И.И. Артемов - д.т.н., профессор, проректор по научной работе, Пензенский государственный университет В.С. Безяев - к.т.н., ген. директор, ОАО НПП «Рубин», г. Пенза А.Ю. Малыгин - д.т.н., профессор, начальник межотраслевой лаборатории «Тестирование биометрических устройств и технологий», Пензенский государственный университет
Аннотация:
Рассмотрены особенности тестирования средств биометрико-нейросетевой аутентификации пользователей телекомму¬никационных систем Минобрнауки РФ по рукописному слову-паролю
Страницы: 49-52
Список источников
  1. ГОСТ Р 52633.0 - 2006 Защита информации. Техника защиты информации. Требования к средствам высоконадежной биометрической аутентификации. М.: Изд-во Стандартинформ. 2007.
  2. ГОСТ Р 52633.1-2009 Защита информации. Техника защиты информации. Требования к формированию баз естественных биометрических образов, предназначенных для тестирования средств высоконадежной биометрической аутентификации.
  3. ГОСТ Р 52633.2 - 2010 Защита информации. Техника защиты информации. Требования к формированию синтетических биометрических образов, предназначенных для тестирования средств высоконадежной биометрической аутентификации. М.: Изд-во Стандартинформ. 2011.
  4. ГОСТ Р 52633.3-2011 Защита информации. Техника защиты информации. Тестирование стойкости средств высоконадежной биометрической защиты к атакам подбора.
  5. Волчихин В.И., Иванов А.И., Фунтиков В.А. Быстрые алгоритмы обучения нейросетевых механизмов биометрико-криптографической защиты информации. Монография. Пенза: Пенз. гос. ун-т. 2005.
  6. Малыгин А.Ю., Волчихин В.И., Иванов А.И., Фунтиков В.А. Быстрые алгоритмы тестирования нейросетевых механизмов биометрико-криптографической защиты информации. Пенза: Пенз. гос. ун-т. 2006.
  7. Надеев Д.Н. Моделирование биномиального зависимого закона распределения значений вероятностей ошибок нейросетевых преобразователей для высоконадежной биометрической защиты // Вопросы защиты информации. 2008. № 3. С. 31-35.
  8. Малыгин А.Ю., Надеев Д.Н., Иванов А.И. Две причины не идеальности нейросетевых преобразователей биометрия-код по выходным случайным состояниям кодов «Чужие» // Вопросы защиты информации. 2008. № 2. С. 19-21.