350 руб
Журнал «Нейрокомпьютеры: разработка, применение» №8 за 2009 г.
Статья в номере:
Усовершенствованный метод выделения подозреваемых логических неисправностей в нейронных сетях
Авторы:
Р. А. Бабкин - инженер электронной техники, программист, ЗАO БДО Юникон Бизнес Солюшнс.
Аннотация:
Рассматривается прямая задача технического диагностирования, состоящая в определении технического состояния нейронной сети с последовательными связями по результатам тестовой проверки. Представлены графовая и аналитические модели поведения нейронных сетей с последовательными связями, учитывающие техническое состояние нейронов и входных-выходных полюсов. Предложен усовершенствованный метод выделения подозреваемых логических неисправностей, при которых возможно наблюдаемое поведение нейронной сети с последовательными связями. Метод позволяет выявлять нелогичность подозреваемых неисправностей. Построение выражений подозреваемых неисправностей выполняется по структуре правильной логической сети, которая является более компактной моделью по сравнению с графом состояний и неисправ-ностей
Страницы: 69-80
Список источников
  1. Карибский В.В., Пархоменко П.П., Согомонян Е.С., Халчев В.Ф. Основы технической диагностики. Кн.1. Модели объектов, методы и алгоритмы диагноза / Под ред. П.П. Пархоменко. М.: «Энергия». 1976. С. 276-280.
  2. Poage J.F. Derivation of optimum tests to detect faults in combinational circuits // Symp. Math. Theory Automata. PolytechnicInstituteofBrooklyn. 1962. April 24-26.
  3. Пархоменко П.П. Диагноз технического состояния дискретных устройств методом выделения подозреваемых неисправностей. Комбинационные устройства. Устойчивые неисправности // АиТ. 1971. № 6. С. 126-137.
  4. Лобанов А.В. О методе выделения подозреваемых неисправностей для асинхронных устройств с памятью // АиТ. 1977. № 4. С. 124-131.
  5. Галушкин А.И. Теория нейронных сетей (Нейрокомпьютеры и их применение). Кн. 1: Уч. пос. для втузов. М.: ИПРЖР. 2000.
  6. Бабкин Р.А., Лобанов А.В. Метод выделения подозреваемых неисправностей в нейронных сетях // Нейрокомпьютеры: разработка, применение. 2004. № 5-6. С. 4-14.
  7. Бабкин Р.А., Лобанов А.В. Метод выделения подозреваемых логических неисправностей в комбинационных дискретных устройствах // АиТ. 2008. № 12. С. 149-162.