350 руб
Журнал «Нейрокомпьютеры: разработка, применение» №12 за 2007 г.
Статья в номере:
Оценка размеров баз биометрических образов для корректного тестирования высоконадежных нейросетевых преобразователей
Авторы:
Малыгин А.Ю., Волчихин В.И., Федулаев В.В., Безяев А.В.
Аннотация:
Показано, что для тестирования средств высоконадежной биометрии необходимо создавать реальные базы биометрических образов больших размеров. Знание законов распределения в созданных базах позволяет значительно сократить размеры этих баз, время тестирования устройств и перейти от термина «оценка» стойкости к термину «измерение» биометрической стойкости средств защиты.