350 руб
Журнал «Наноматериалы и наноструктуры - XXI век» №1 за 2011 г.
Статья в номере:
Наноразмерные сегнетоэлектрические пленки Ba<sub>0.8</sub>Sr<sub>0.2</sub>TiO<sub>3</sub> на подложках MgO
Ключевые слова: тонкие сегнетоэлектрические пленки BST электронная микроскопия высокого разрешения
Авторы:
О.М. Жигалина - к.ф.-м.н., в.н.с. доцент, Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН (Москва). Е-mail: zhigal@ns.crys.ras.ru В.М. Мухортов - д.ф.-м.н., профессор, Южный научный центр РАН (г. Ростов-на-Дону) Ю.И. Головко - д.т.н., начальник отдела, Южный научный центр РАН (г. Ростов-на-Дону) A.Л. Чувилин - к.ф.-м.н., CIC nanoGUNE, San-Sebastian. Е-mail: a.chuvilin@nanogune.eu А.Н. Кускова - м.н.с., Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН (Москва). Е-mail: skaldy@rambler.ru
Аннотация:
Методом просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения проведены исследования и анализ дефектной микроструктуры монокристаллических сегнетоэлектрических наноразмерных пленок Ba0.8Sr0.2TiO3, выращенных методом магнетронного распыления мишени на подложках MgO. Выявлено в пленке наличие дислокаций с векторами Бюргерса <100> и 1/2<110> и границы блоков
Страницы: 23-25
Список источников
  1. Acikel B., Taylor T.R., Hansen P.J., et. al. A new high performance phase shifter using BaxSr1-x TiO3 thin films // IEEE Microwave and Wireless components Letters. 2002. V. 12. Р. 237.
  2. Baskaran N., Ghule A., Bhongale C., et al. Phase transformation studies of ceramic BaTiO3 using thermo-Raman and dielectric constant measurements // J. Appl. Phys. 2002. V. 91. P. 10038.
  3. Kim Y.S., Kim D.H., Kim J.D., et. al. Critical thickness of ultrathin ferroelectric BaTiO3 films // Appl. Phys Lett. 2005. V. 86. P. 102907.
  4. Lichtensteiger C., Triscone J.-M., Junquera J., Ghosez P. Ferroelectricity and etragonality in Ultrathin PbTiO3 Films // Phys. Rev. Lett. 2005. V. 94. P. 047603.
  5. Oh S.H., Jang H.M. Two-dimensional thermodynamic theory of epitaxial Pb(Zr,Ti)O3 thin films // Phys. Rev. B. 2000. V. 62. P. 14757.
  6. Pertsev N.A., Zembilgotov A.G., Tagantsev A.K. Effect of Mechanical Boundary Conditions on Phase Diagrams of Epitaxial Ferroelectric Thin Films // Phys. Rev. Lett. 1998. V. 80. P. 1988.
  7. Misirlioglu I.B., Vasiliev A.L., Alpay S.P., Aindow M., Ramesh R. Defect microstructures in epitaxial PbZr0.2Ti0.8O3 films grown on (001) SrTiO3 by pulsed laser deposition //J. MATER. SCI. 2006. V.41. P. 697.
  8. Мухортов В.М., Колесников В.В., Головко Ю.И. и др. Формирование доменной структуры под действием деформационных полей в наноразмерных пленках титаната бария стронция // Письма в ЖТФ. 2005. Т. 31. № 23. С. 75.
  9. Мухортов В.М., Головко Ю.И., Толмачев Г.Н. Создание наноразмерных монокристаллических пленок сложных оксидов путем трехмерного упорядочения атом - кластер - кристалл // Вестник Южного научного центра РАН. 2006. Т. 2. № 1. С. 30.
  10. Гутаковский А.К., Чувилин А.Л., Song S.A. Применение высокоразрешающей электронной микроскопии для визуализации и количественного анализа полей деформации в гетеросистемах// Изв. РАН. Сер. физ. 2007. Т. 71. №10. С. 1464-1470.