350 руб
Журнал «Информационно-измерительные и управляющие системы» №10 за 2012 г.
Статья в номере:
Анализ методов прогнозирования надежности современных радиоэлектронных компонентов
Авторы:
Е.А. Бондарейко - аспирант, кафедра «Конструирование, технология и производство РЭС», Московский авиационный институт (Национальный исследовательский университет). E-mail: zhenya2606@mail.ru
Аннотация:
Проведен анализ современных методов прогнозирования надежности электронных компонентов. Показаны примеры математических моделей расчета надежности сверхбольших интегральных схем. Выявлены достоинства и недостатки методов, а также целесообразность их применения на различных стадиях разработки изделий.
Страницы: 68-74
Список источников
  1. Бондарейко Е. А. Анализ методов прогнозирования надежности современных радиоэлектронных компонентов: Московская молодежная научно-практическая конференция «Инновации в авиации и космонавтике - 2012». 17-20 апреля 2012 года. Москва. Сборник тезисов докладов. М.: ООО «Принт-салон». 2012.
  2. Козырь И. Я. Качество и надежность интегральных микросхем. М.: Высш. школа. 1987.
  3. Справочник. Надежность электрорадиоизделий / Министерство обороны Российской Федерации. 2004.
  4. Military Handbook Reliability Prediction of Electronic Equipment MIL-HDBK-217F - Washington: D. С.: U. S. Government Printing Office. 2004.
  5. Витков Б. Г., Дудко О. В. Применение программного комплекса «АСОНИКА» в процессе разработки радиоэлектронной аппаратуры на примере блока обработки первичной информации // Успехи современной радиоэлектроники. 2011. №1.
  6. Veronica Asenek, Prof. Martin Sweeting, Dr. Jeff Ward. Reliability prediction and improvement of electronic systems on-board modern cost-effective microsatellites [Электронныйресурс]: Проект студенческого микроспутника // Centre for Satellite Engineering Research, University of Surrey, Guildford, GU2 5XH, UK, 2003. URL: http://microsat.sm.bmstu.ru/e-library/ccdh/radiation/apres.htm (дата обращения 28.06.2012).
  7. Seymour M.F. MIL-HDBK-217-A Favorite Target // Proceedings Annual Reliability and Maintainability Symposium, 1993.