350 руб
Журнал «Электромагнитные волны и электронные системы» №2 за 2017 г.
Статья в номере:
Дифракция электромагнитного излучения на тонких проводящих пленках металлодиэлектрических структур в прямоугольном волноводе
Ключевые слова:
металло-диэлектрическая структура
нанометровые пленки
электромагнитные поля
пространственный резонанс
акустические волны
Авторы:
С.П. Арсеничев - ст. преподаватель, кафедра радиофизики и электроники, Крымский федеральный университет имени В.И. Вернадского (г. Симферополь)
Е.В. Григорьев - к.т.н., доцент, кафедра радиофизики и электроники, Крымский федеральный университет имени В.И. Вернадского (г. Симферополь)
С.А. Зуев - к.т.н., доцент, кафедра радиофизики и электроники, Крымский федеральный университет имени В.И. Вернадского (г. Симферополь)
E-mail: sazuev@yandex.ru
В.В. Старостенко - д.т.н., профессор, кафедра радиофизики и электроники, Крымский федеральный университет имени В.И. Вернадского (г. Симферополь)
E-mail: starostenko@crimea.com
Е.П. Таран - к.т.н., доцент, кафедра радиофизики и электроники, Крымский федеральный университет имени В.И. Вернадского (г. Симферополь)
E-mail: taran_evgeniy@mail.ru
И.Ш. Фитаев - магистрант, Крымский федеральный университет имени В.И. Вернадского (г. Симферополь)
Аннотация:
Приведены экспериментальные данные по исследованию дифракционных явлений в тонких пленках металлодиэлектрических структур (МДС) в СВЧ-диапазоне. Установлено наличие пространственного резонанса в нанометровых пленках из меди, алюминия, титана и нихрома при толщине пленок d = 3-15 нм. Показано, что резонанс в данном интервале толщин пленок практически не зависит от частоты воздействующего электромагнитного поля (ЭМП) и определяется толщиной, материалом и технологией нанесения пленок. Отмечено, что появление пространственного резонанса для нанометровых пленок обусловлено процессами преобразования энергии электромагнитных полей в акустическую энергию. Найдено распределение плотности тока в проводящих пленках МДС, которое определяет специфический характер разряда при воздействии электромагнитного излучения, превышающего пороговое значение.
Страницы: 48-53
Список источников
- Wood R. On the remarkable case of uneven distribution of light in a diffraction grating spectrum // Proc. Phys. Soc. London. 1902. V. 18. P. 269−275.
- Maxwell Garnett J.C. Colours in metal glasses and metal films // Philos. Trans. R. Soc. London. 1904. V. 3. P. 385−420.
- Aeschlimann M., Bauer M., Pawlik S., Knorren R. Transport and dynamics of optically excited electrons in metals // Applied Physics. 2000. № 71. P. 485−491.
- Антонец И.В., Котов Л.Н., Некипелов С.В., Карпушин Е.И. Проводящие и отражающие свойства тонких металлических пленок // Журнал технической физики. 2004. Т. 74. № 11. С. 102−106.
- Антонец И.В., Котов Л.Н., Некипелов С.В., Голубев Е.А. Особенности наноструктур и удельной проводимости тонких пленок различных металлов // Журнал технической физики. 2004. Т. 74. № 3. С. 24−27.
- Bolakis C., Grbovic D., Lavrik N., Karunasiri G. Design and characterization of terahertzabsorbing nano-laminates of dielectric and metal thin films // Optics Express. 2010. V. 18. № 14. P. 14488−14495.
- Вдовин В.А. Нанометровые металлические пленки в датчиках мощных СВЧ импульсов // Материалы III Всерос. конф. «Радиолокация и радиосвязь». Москва. 26−30 октября 2009. С. 832−835.
- Быков Ю.А., Карпухин С.Д., Газукина Е.И. О некоторых особенностях структуры и свойств металлических «тонких» пленок // Металловедение и термическая обработка металлов. 2000. № 6. С. 45−47.
- Малишевский С.В., Таран Е.П., Старостенко В.В. Использование «сенсорных датчиков» для численного решения задачи дифракции электромагнитных полей на металлодиэлектрических неоднородностях в волноводе // Вестник ХНУ. Радиофизика и электроника. 2002. № 1. № 570. С. 146−149.
- Таран Е.П., Слипченко Н.И., Старостенко В.В., Арсеничев С.П. Модель дифракции электромагнитных полей на пространственно-неоднородных пленочных структурах в волноводе // Материалы 23‑й Междунар. Крымской конф. «СВЧ-техника и телекоммуникационные технологии». Севастополь. 8−13 сентября 2013. Т. 2. С. 916−917.