350 руб
Журнал «Электромагнитные волны и электронные системы» №8 за 2016 г.
Статья в номере:
Отражение электромагнитной волны от среды с немонотонным профилем диэлектрической проницаемости
Ключевые слова: диэлектрическая проницаемость коэффициент отражения угол Брюстера имплантированный слой
Авторы:
В.В. Шагаев - д.ф.-м.н., профессор, Калужский филиал МГТУ им. Н.Э. Баумана E-mail: shagaev_vv@rambler.ru
Аннотация:
Построена и изучена математическая модель отражения электромагнитной волны с p поляризацией от неоднородной по толщине границы раздела двух прозрачных сред. Показано, что логарифмическая производная от коэффициента отражения по углу может быть использована в качестве индикатора неоднородности, при этом наиболее информативной является область углов вблизи угла Брюстера. Для случая, когда длина электромагнитной волны становится много больше, чем толщина неоднородного переходного слоя, выведено аналитическое соотношение, выражающее коэффициент отражения через координатную зависимость диэлектрической проницаемости. Развитые теоретические представления проиллюстрированы расчетами, выполненными для отражения волны терагерцевого диапазона от имплантированного слоя.
Страницы: 21-28
Список источников

 

  1. Зинченко С.П., Ковтун А.П., Толмачев Г.Н. О возможности контроля роста тонких пленок методом угловой рефлектометрии в области угла Брюстера // ЖТФ. 2009. Т. 79. № 11. С. 128−133.
  2. Ерохин Н.С., Зуева Ю.М., Шварцбург А.Б. Поляризационные эффекты в градиентной нанооптике // Квантовая электроника. 2013. Т. 43. № 9. С. 785−790.
  3. Шварцбург А.Б. Дисперсия электромагнитных волн в слоистых и нестационарных средах (точно решаемые модели) // УФН. 2000. Т. 170. № 12. С. 1297−1324.
  4. Шварцбург А.Б., Агранат М.Б., Чефонов О.В. Нанооптика градиентных диэлектрических пленок // Квантовая электроника. 2009. Т. 39. № 10. С. 948−952.
  5. Наурзалин Р.Э. Приближенные аналитические выражения для коэффициентов отражения электромагнитной волны от неоднородного кирального слоя // Журнал радиоэлектроники. 2007. № 7. URL: http://jre.cplire.ru/win/jul07/4/text.html (07.09.2016).
  6. Кравцов Ю.А., Орлов Ю.И. Геометрическая оптика неоднородных сред. М: Наука. 1980. 306 с.
  7. Антонец И.В., Котов Л.Н., Шавров В.Г., Щеглов В.И. Метод исключения для расчета распространения волн через среды со ступенчатыми неоднородностями // Журнал радиоэлектроники. 2013. № 4. С. 38 URL: http://jre.cplire.ru/alt/apr13/6/text.pdf (07.09.2016).
  8. Биленко Д.И., Полянская В.П., Гецьман М.А., Горин Д.А., Невешкин А.А., Ященок А.М. Влияние переходного слоя на результаты эллипсометрических исследований наноразмерных слоев // ЖТФ. 2005. Т. 75. № 6. С. 69−73.
  9. Шагаев В.В. Расчет рефлектометрических характеристик с учетом профильной неоднородности переходного слоя // ЖТФ. 2015. Т. 85. № 12. С. 6−11.
  10. Бабиков В.В. Метод фазовых функций в квантовой механике. М: Наука. 1976. 286 с.