350 руб
Журнал «Электромагнитные волны и электронные системы» №1 за 2013 г.
Статья в номере:
Вейвлет-обработка изображений, полученных от фотоприёмного устройства инфракрасной области спектра
Ключевые слова: инфракрасный диапазон декомпозиция и реконструкция сигнала вейвлет вейвлет-базис дискретный вейвлет-анализ масштабный и детальный вейвлет-спектр уровень вейвлет-разложения гладкость вейвлет-базиса высокочастотный и низкочастотный фильтр точечные и протяжённые детали изображения
Авторы:
Я.С. Белехов - к.т.н., вед. инженер, филиал ОАО «НПК «СПП» в Великом Новгороде. E-mail: Yar-Bel@mail.ru
Аннотация:
Рассмотрена проблема выделения в изображении деталей различной протяжённости. В качестве экспериментального материала используются полётные кадры, полученные от авиационной оптико-электронной системы инфракрасной (ИК) области спектра. Произведена обработка изображений путём фильтрации частотного спектра изображений. Для частотного преобразования изображений использованы математический аппарат дискретного вейвлет-анализа (DWT). Применена вейвлет-обработка ИК кадров для двух основных задач: выделение в кадре точечных объектов соизмеримых с однопиксельным приближением; выделение и устранение из изображения протяжённых, низкочастотных деталей контраста, содержащих фоновою огибающую 3-мерного профиля кадра (фоновую неоднородность изображения).
Страницы: 23-27
Список источников
  1. Воробьев В.И., Грибунин В.Г. Теория и практика вейвлет-преобразования. СПб.: ВУС. 1999.
  2. Добеши И. Десять лекций по вейвлетам. Ижевск: НИЦ «Регулярная и хаотическая динамика». 2001.
  3. Гонсалес Р., Вудс Р., Эддинс C. Цифровая обработка изображений в среде MATLAB. М.: Техносфера. 2006.
  4. Ткаль В.А, Окунев А.О., Белехов Я.С., Петров М.Н., Данильчук Л.Н. Устранение зернистости топографических изображений дефектов структуры монокристаллов с помощью вейвлет-анализа // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2006. Т. 72. № 8. С. 27-32.
  5. Ткаль В.А., Окунев А.О., Белехов Я.С., Петров М.Н., Данильчук Л.Н. Применение вейвлет-анализа для устранения фоновой неоднородности поляризационно-оптических изображений дефектов структуры монокристаллов // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2006. Т. 72. № 7. С. 22-29.
  6. Ткаль В.А, Окунев А.О., Белехов Я.С., Петров М.Н., Данильчук Л.Н. Устранение зернистости топографических изображений дефектов структуры монокристаллов различными вейвлет-базисами // Заводская лаборатория. Диагностикаматериалов. 2006. Т. 72. № 10. С. 23-30.