А.Н. Кархов - начальник отдела, ОАО «НПК «СПП». E-mail: akarhov@niipp-moskva.ru

Получены аналитические зависимости распределения уровня облученности космического аппарата (КА) лазерными импульсами от параметров случайных отклонений луча; рассмотрен луч с нулевой поперечной модой со случайными отклонениями по одной и по двум координатам, а также при наличии систематических отклонений; показано, что зависимости позволяют оценивать вероятности облучения КА заданным пороговым уровнем экспозиции при заданных параметрах случайных отклонений луча и при известной энергии лазерного луча, достигающей орбиты КА.