Способ расчета погрешности косвенных измерений, выполненных на основе калибровки TRL-методом

350 руб

Журнал «Динамика сложных систем - XXI век» №1 за 2013 г.

Статья в номере:

Ключевые слова: калибровка погрешности микрополосковый тракт параметры рассеяния контактное устройство

Авторы:

И.Г. Белков - аспирант, кафедра «Компьютерные технологии в проектировании и производстве», Нижегородский государственный технический университет им. Р.Е. Алексеева. E-mail: belziri@rambler.ru Ю.В. Еремеев - ассистент, кафедра «Компьютерные технологии в проектировании и производстве», Нижегородский государственный технический университет им. Р.Е. Алексеева. E-mail: eurry@inbox.ru И.Н. Малышев - к.т.н., доцент, кафедра «Компьютерные технологии в проектировании и производстве», Нижегородский государственный технический университет им. Р.Е. Алексеева. E-mail: mal-iliay@yandex.ru

Аннотация:

Исследованы источники погрешности калибровки TRL-методом в микрополосковом тракте. Предложен способ расчета погрешности определения параметров резистивных СВЧ-компонент в микроплосковом тракте.

Страницы: 57-64