Н.В. Мясникова1, Л.А. Долгих2, М.Г. Мясникова3
1–3 ФГБОУ ВО «Пензенский государственный университет» (г. Пенза, Россия)
1genok123@mail.ru, 2dolgikhla@pnzgu.ru, 3mariagen@yandex.ru
Постановка проблемы. Выделение вызванных потенциалов (ВП) с помощью анализа электроэнцефалограммы (ЭЭГ) – хорошо зарекомендовавший себя метод получения объективной информации о когнитивных функциях. Для повышения отношения сигнал/шум сигналы часто фильтруются. В качестве альтернативы можно рассматривать декомпозицию сигнала с последующим отбором нужных для анализа составляющих. Применение эмпирического вейвлет-преобразования способствует качественному выполнению данной процедуры.
Цель. Рассмотреть возможность применения эмпирического вейвлет-преобразования для анализа ВП.
Результаты. Показано, что применение эмпирического вейвлет-преобразования на синтезированных данных существенно уменьшило фоновую ЭЭГ, сохранив при этом форму и амплитуду ВП.
Практическая значимость. Использование эмпирического вейвлет-преобразования дает возможность выделить вызванный потенциал, применяя небольшой объем данных.
Мясникова Н.В., Долгих Л.А., Мясникова М.Г. Анализ вызванных потенциалов с использованием эмпирического вейвлет-преобразования // Биомедицинская радиоэлектроника. 2026. T. 29. № 1. С. 73−78. DOI: https:// doi.org/10.18127/j156 04136-202601-14
- Григорьев Ф.Н., Кузнецов Н.А. Выделение вызванных потенциалов с использованием стохастической теории фильтрации» // Информационные процессы. 2014. Т. 14. № 4. С. 285–294.
- Quian Quiroga R., Garcia H. Single-trial event-related potentials with wavelet denoising. Clinical Neurophysiology. 2003. V. 114. № 2. P. 376–390.
- Gilles J. Empirical Wavelet Transform. IEEE Transactions on Signal Processing. 2013. V. 61(16). P. 3999–4010.
- Kappenman E.S., Luck, S.J. The effects of electrode impedance on data quality and statistical significance in ERP recordings. Psychophysiology. 2010. V. 47. P. 888–904.
- Tseng S.Y., Chen R.C., Chong F.C., Kuo T.S. Evaluation of parametric methods in EEG signal analysis. Medical Engineering and Physics. 1995. V. 17. № 1. P. 71–78.

