350 руб
Журнал «Биомедицинская радиоэлектроника» №6 за 2011 г.
Статья в номере:
Оценка погрешности при структурно-аналитическом проектировании СИИС
Ключевые слова: оценка погрешности сложные информационно-измерительные системы метод структурно-аналитического проектирования
Авторы:
Юрий Петрович Муха - д.т.н., профессор, академик Метрологической академии России, кафедра вычислительной техники, ВолГТУ. E-mail: MuxaUP@mail.ru Ирина Юрьевна Королёва - к.т.н., доцент, кафедра вычислительной техники, ВолгГТУ. Е-mail: ArtMD64@rambler.ru Александр Владимирович Силкин - студент 6-го курса, факультет электроники и вычислительной техники, ВолгГТУ. E-mail: svs763@mail.ru
Аннотация:
Предложена методика для проведения этапа поверки (оценки погрешности, метрологического анализа) сложных информационно-измерительных систем при структурно-аналитическом проектировании. Приведены итоги проектирования аппарата для диагностического анализа голосового сигнала человека, показывающие работоспособность методики и ее важность для правильной оценки результатов измерений.
Страницы: 47-52
Список источников
  1. Берж К. Теория графов и ее применение. М.: Изд-во иностр. лит. 1962. 319 с.
  2. Муха Ю.П., Авдеюк О.А., Королёва И.Ю. Алгебраическая теория синтеза сложных систем: монография. Волгоград: РПК «Политехник». 2003. 320 с.
  3. Муха Ю.П., Королёва И.Ю., Приходькова И.В. Итоги и
    перспективы развития структурно-аналитического метода проектирования измерительных систем // Биомедицинские технологии и радиоэлектроника. 2005. № 3. С. 49-56.
  4. Цветков Э.И.Основы математической метрологии. СПб.: Политехника. 2005. 510 с.