350 руб
Журнал «Успехи современной радиоэлектроники» №8 за 2017 г.
Статья в номере:
Вероятностные характеристики уровней электромагнитного поражения полупроводниковых приборов и радиоэлектронных средств
Тип статьи: научная статья
УДК: 621.391.82
Авторы:

А.А. Волков – к.т.н., преподаватель, ВУНЦ ВВС «Военно-воздушная академия имени профессора Н.Е. Жуковского  и Ю.А. Гагарина» (г. Воронеж)

E-mail: volkov_aa@autorambler.ru.

Аннотация:

Дано обоснование аппроксимации функций распределения вероятностей уровней электромагнитного поражения полупроводниковых приборов и радиоэлектронных средств логарифмически нормальными кривыми. Показано соответствие аппроксимирующих функций результатам эксперимента. Проведен расчет вероятности электромагнитного поражения радиоэлектронного средства со штатным приемным трактом при равномерном распределении направлений приема поражающего излучения.

Страницы: 23-30
Список источников
  1. Добыкин В.Д., Куприянов А.И., Пономарев В.Г., Шустов Л.Н. Радиоэлектронная борьба. Силовое поражение радиоэлектронных систем. М.: Вузовская книга. 2007.
  2. Рикетс Л.У., Бриджес Дж. Э., Майлетта Дж. Электромагнитный импульс и методы защиты. М.: Атомиздат. 1979.
  3. Антипин В.В., Годовицин В.А., Громов Д.В., Кожевников А.С., Раваев А.А. Влияние мощных импульсных микроволновых помех на полупроводни-ковые приборы и интегральные микросхемы // Зарубежная радиоэлектроника. 1995. № 1. С. 37–53.
  4. Ключник А.В., Солодов А.В. Статистическая модель повреждения цифровых интегральных микросхем импульсным радиоизлучением // Радиотехника. 2010. № 2. С. 37–42.
  5. Ключник А.В., Пирогов Ю.А., Солодов А.В. Статистика повреждения СВЧ диодов импульсным радиоизлучением // Журнал радиоэлектроники: электронный журнал. 2010. № 12. URL: http://jre.cplire.ru/jre/dec10/1/text.pdf.
  6. Ключник А.В., Пирогов Ю.А., Солодов А.В. Обратимые отказы интегральных микросхем в полях радиоизлучения // Журнал радиоэлектроники: электронный журнал. 2013. № 1. URL: http://jre.cplire.ru/jre/jan13/18/text.pdf.
  7. Пирогов Ю.А., Солодов А.В. Повреждения интегральных микросхем в полях радиоизлучения // Журнал радиоэлектроники: электронный журнал. 2013. № 6. URL: http://jre.cplire.ru/jre/jun13/15/text.pdf.
  8. Добыкин В.Д. Оценка статистических характеристик теплового поражения полупроводниковых приборов // Радиотехника. 2004. № 10. С. 38–43.
  9. Мещеряков С.А. Моделирование теплового поражения диодных полупроводниковых структур полиимпульсным сверхвысокочастотным радиоизлучением // Журнал радиоэлектроники: электронный журнал. 2013. № 7. URL: http://jre.cplire.ru/jre/jul13/4/text.pdf.
  10. Айвазян С.А., Енюков И.С., Мешалкин Л.Д. Прикладная статистика: Основы моделирования и первичная обработка данных. М.: Финансы и статистика. 1983.
  11. Вадзинский Р.Н. Справочник по вероятностным распределениям. СПб.: Наука. 2001.
  12. Вентцель Е.С. Теория вероятностей. М.: Наука. Главная редакция физико-математической литературы. 1969.
  13. Раков В.И. Методы аппроксимации диаграмм направленного действия антенн радиолокационных станций. Л.: ВМАКВ. 1958.
Дата поступления: 30 июня 2017 г.