350 руб
Журнал «Успехи современной радиоэлектроники» №1 за 2010 г.
Статья в номере:
Оптимальное проектирование гетероструктуры для смесителей радиосигналов на основе РТД
Ключевые слова: микроэлектроника нанотехнологии смеситель радиосигналов резонансно-туннельный диод
Авторы:
А.Г. Гудков - д.т.н., проф., ген. директор ООО «Научно-производственная инновационная фирма «ГИПЕРИОН» С.А. Мешков - к.т.н., доц., вед. научн. сотр. ООО «Научно-производственная инновационная фирма «ГИПЕРИОН» С.В. Хныкина - к.т.н., гл. специалист ООО «Научно-производственная инновационная фирма «ГИПЕРИОН»
Аннотация:
Изучены процессы, влияющие на возникновение отказов смесителей радиосигналов на основе резонансно-туннельных диодов с составом слоев гетероструктуры GaAs-AlGaAs. Оптимальное проектирование ведется с учетом технологических факторов. Представлены результаты теоретических и экспериментальных исследований; раз-работана методика по определению показателей надежности смесителей радиосигналов на основе резонансно-туннельных диодов.
Страницы: 20-26
Список источников
  1. Ю. А. Исследование направлений применения резонансно-туннельного диода в интегральных схемах СВЧ-диапазона // Микроэлектроника. 1996. Т. 25. № 4.
    С. 249-258.
  2. Иванов Ю. А. Гармониковый смеситель СВЧ-диапазона на РТД // СВЧ-техника и телекоммуникационные технологии (КрымиКо 1998): Материалы 8 Междунар. Крымской конф. Севастополь. 1998. С. 590-591.
  3. Арсенид галлия в микроэлектронике: Пер. с англ. / под ред.Н. Айнспрука, У. Уиссмена. М.: Мир. 1988.
  4. Молекулярно-лучевая эпитаксия и гетероструктуры: Пер. с англ. / под ред. Л. Ченга, К. Плога. М.: Мир. 1989.
  5. Гуртов В. Твердотельная электроника. Изд. 2-е. М.: Техносфера. 2005.
  6. Нанотехнологии в электронике / под ред. Ю. А. Чаплыгина. М.: Техносфера. 2005.
  7. Хныкина С. В.Разработка операционной технологии термоиспытаний с целью оценки надежности смесителей радиосигналов на основе резонансно-туннельных диодов. Дисс. ... канд. техн. наук. М.: МГТУ им. Н. Э. Баумана. 2008.
  8. Александров Р. Ю., Малышев К. В., Хныкина С. В. и др. Исследование показателей качества СВЧ-микросхем с помощью системы Advanced Design System (ADS) компании Agilent Technologies: Учебное пособие / под ред. И. Б. Федорова. М.: МГТУим. Н. Э. Баумана. 2008.