350 руб
Журнал «Успехи современной радиоэлектроники» №1-2 за 2009 г.
Статья в номере:
Развитие методов анализа электромагнитных излучений в широкой полосе частот
Ключевые слова: побочное электромагнитное излучение ЭЛТ-монитор корреляционный метод тестовый сигнал
Авторы:
Ю.В. Кузнецов, А.Б. Баев, М.А. Бехтин, А.А. Сергеев
Аннотация:
Представлено развитие методов анализа побочных электромагнитных излучений (ПЭМИ) технических средств в широкой полосе частот. Приведено математическое описание системы формирования, измерения и обработки ПЭМИ. Рассмотрены модели электромагнитного излучения технического средства в тестовом режиме, преобразования ПЭМИ в линейном параметрическом измерительном блоке. Разработана структура цифровой обработки измеренного сигнала. Введение предварительной обработки измеренных сигналов позволило учесть характеристики тракта приема. Описаны результаты экспериментальных исследований электромагнитных излучений персонального компьютера.
Страницы: 132
Список источников
  1. Бехтин М.А., Баев А.Б., Кузнецов Ю.В., Сергеев А.А. Непараметрические методы анализа широкополосных электромагнитных излучений / 10-я Межд. конф. и выставка «Цифровая обработка сигналов и ее применения». - М.: март 2008, с. 370-374.
  2.  Кузнецов Ю.В., Баев А.Б., Ноздрин В.В., Шевгунов Т.Я. Исследование алгоритма обнаружения побочного электромагнитного излучения компьютеров / 4-я Межд. конф. и выставка «Цифровая обработка сигналов и ее применения». - М.: 2002, с. 326-329.
  3. Кузнецов Ю.В., Баев А.Б., Бехтин М.А. Применение многоуровневого аналого-цифрового преобразования при измерении широкополосных электромагнитных излучений во временной области. - Радиотехника, 2006, № 8, с. 50-58.  
  4. Krug F., Hermann T. and Russer P. Signal Processing Strategies with the TDEMI Measurement System. - IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference Proceeding, Vail, USA, 2003, May 20-22, pp. 832-837.
  5. Krug F., Hermann T. and Russer P. A Novel EMC Testing Technique based on Time Domain Methods. - The 19th Annual Review of Progress in Applied Computational Electromagnetics, March 24-28, 2003, USA.