350 руб
Журнал «Вакуумная, плазменная и твердотельная электроника» №1 за 2010 г.
Статья в номере:
Статистическое регулирование технологических процессов при контроле параметров экспоненциального распределения
Авторы:
В.П. Марин - д.т.н., проф., зав. кафедрой ТОРЭ, МИРЭА. E-mail: Kochonov@yandex.ru Я.С. Гродзенский - ассистент кафедры ТОРЭ, МИРЭА Н.Е. Садковская - к.т.н., доцент, Калужский филиал МГТУ им. Н.Э. Баумана
Аннотация:
Исследованы эффективность оптимальных статистических последовательных критериев для регулирования технологи-ческих процессов, когда контролируемый параметр имеет экспоненциальное распределение. Свойства критериев срав-ниваются методом математического моделирования.
Страницы: 73-76
Список источников
  1. Вальд А. Последовательный анализ. М.: Физматгиз. 1960.
  2. Айвазян С.А. Различение близких гипотез о виде плотности распределения в схеме обобщенного последовательного критерия // Теория вероятностей и ее применения. 1965. Т. Х. Вып.4. С. 713-726.
  3. Lorden G., Lorden G. 2-SPRT`s and modified Kiefer-Weiss problem of minimizing an expected sample size // Annals of Statistics. 1976. V.4. № 2. P. 281-292.
  4. Гродзенский Я.С. Применение оптимальных статистических последовательных критериев для контроля технологических процессов // Метрология. 2009. № 5. С. 3 - 9.
  5. Гродзенский Я.С. Измерение показателей качества путем рационализации процедуры статистического регулирования технологических процессов // Измерительная техника. 2009. № 7. С. 15-16. Grodzenskii Ya. S. Quality parameter measurement by rationalizing process statistical regulation // Measurement Techniques. 2009. V. 52. № 7. P. 706.
  6. Гродзенский Я.С. Новые возможности статистического регулирования технологических процессов // Методы менеджмента качества. 2009. № 9.С. 40-42.