Каминский А.С.

Методом экситонной спектроскопии исследована переориентация гексавакансий V6 при растяжении монокристаллического кремния в кристаллографическом направлении [111]. Получены зависимости, характеризующие степень ориентации V6, от величины деформирующего усилия. Предложен оригинальный метод ориентации V6, получаемой одновременно в условиях и сжатия и растяжения кристалла при его изгибе.