Емельченков Ф.И., Хромов Д.Е.

Рассмотрены особенности и сравнительные характеристики структур плотных эквидистантных, разреженных эквидистантных и разреженных неэквидистантных ФАР и АФАР. На базе анализа множителя решетки синтезирован совершенно новый класс ФАР и АФАР - неэквидистантных с плотным равномерным по площади заполнением излучателями, максимально пригодный для современных и перспективных БРЛС ЛА. Показана для нового класса плотных неэквидистантных решеток минимизация необходимого для требуемого сектора сканирования числа элементов с одним характеристическим размером dav.