Анализ отказов электронных элементов и интегральных схем
- 1 аспирант, кафедра радиопередающих устройств, Московский Государственный Институт Радиотехники Электроники и Автоматики, инженер отдела главного конструктора ОАО НПО ЛЭМЗ
Ключевые слова:
неразрушающий контроль качестварентгенографиярентгеноспектроскопияоптическая микроскопияуправление надежностьюкомпоненты интегральных схем
Аннотация
Описаны основные виды отказов элементов интегральных схем и предложены методы их исследования.
Для цитирования
Сметанников В.А. Анализ отказов электронных элементов и интегральных схем // Наукоемкие технологии. 2011. № 8. С. 68–70.
Список источников
- Smith C.A. The application of X-rays in the failure analysis of electronic devices and systems // Circuit World. 2008. V. 34. № 3. Р. 31 - 39.