Применение сканирующей оптической микроскопии ближнего поля для изучения субмикро- и нанообъектов, а также распределения электромагнитного поля

Представлены результаты применения сканирующей оптической микроскопии ближнего поля (СОМБП) для изучения локальных оптических характеристик субмикро- и нанообъектов, а также распределения электромагнитного поля в непосредственной близости от них; показано влияние поляризации излучения подсветки на формирование СОМБП-изображения нерегулярных дефектов; продемонстрировано сверхвысокое оптическое разрешение при исследовании люминесцентных нанообъектов; визуализированы ортогонально поляризованные компоненты электромагнитного поля оптической частоты в непосредственной близости от апертуры субдлинноволнового размера; показана возможность получения информации о локальных магнитных свойствах эпитаксиальных пленок ферритов-гранатов с помощью СОМБП.