Волноводные фотонные структуры на резонансных диафрагмах
- 1 д.ф.-м.н., профессор, кафедра физики твердого тела, Саратовский государственный университет им. Н.Г. Чернышевского; засл. деятель науки РФ
- 2 д.ф.-м.н., профессор, кафедра физики твердого тела, Саратовский государственный университет им. Н.Г. Чернышевского
- 3 к.т.н., ген. директор ОАО «НПЦ «Электронное приборостроение» (Москва)
- 4 аспирант, кафедра физики твердого тела, Саратовский государственный университет им. Н.Г. Чернышевского
Ключевые слова:
СВЧ волноводный фотонный кристаллрезонансные диафрагмыамплитудно-частотные характери-стики
Аннотация
Проведено компьютерное моделирование и экспериментальное исследование частотных зависимостей коэффициентов пропускания и отражения СВЧ фотонных кристаллов на основе периодически расположенных резонансных диафрагм, каждая из которых представляет собой слой металлизации с отверстием, нанесенный на диэлектрическую подложку с щелью, размеры которой совпадают с размерами отверстия в металлизации. Проведен анализ влияния параметров диэлектрических подложек на характеристики фотонного кристалла.
Для цитирования
Усанов Д.А., Скрипаль А.В., Мерданов М.К., Евтеев С.Г. Волноводные фотонные структуры на резонансных диафрагмах // Радиотехника. 2015. № 10. С. 108–114.
Список источников
- Усанов Д.А., Скрипаль А.В., Абрамов А.В., Боголюбов А.С. Измерения толщины нанометровых слоев металла и электропроводности полупроводника в структурах металл-полупроводник по спектрам отражения и прохождения электромагнитного излучения // ЖТФ. 2006. Т. 76. № 5. С. 112−117.
- Чаплыгин Ю.А., Усанов Д.А., Скрипаль Ал.В., Скрипаль Ан.В., Семёнов А.А., Абрамов А.В., Голишников А.А. Радиоволновые и оптические измерения толщины и электропроводности металлических пленок на полупроводниковых и диэлектрических подложках // Известия ВУЗов. Электроника. 2005. № 1. С. 68−77.
- Чаплыгин Ю.А., Усанов Д.А., Скрипаль А.В., Абрамов А.В., Боголюбов А.С. Методика измерения электропроводности нанометровых металлических пленок в слоистых структурах по спектрам отражения электромагнитного излучения // Известия ВУЗов. Электроника. 2006. № 6. С. 27−35.
- Kuriazidou C.A., Contopanagos H.F., Alexopolos N.G. Monolithic waveguide filters using printed photonic-bandgap materials // IEEE Transactions on microwave theory and techniques. 2001. V. 49. № 2. P. 297−306.
- Беляев Б.А., Волошин А.С., Шабанов В.Ф. Исследование микрополосковых моделей полосно-пропускающих фильтров на одномерных фотонных кристаллах // Доклады РАН. 2005. Т. 403. № 3. С. 319 − 324.
- Мухортов В.М., Масычев С.И., Маматов А.А., Мухортов В.М. Электрически перестраиваемый фотонный кристалл на основе копланарного волновода с наноразмерной сегнетоэлектрической пленкой // Письма в ЖТФ. 2013. Т. 39. № 20. С. 70−76.
- Усанов Д.А., Скрипаль А.В., Абрамов А.В., Боголюбов А.С., Куликов М.Ю., Пономарев Д.В. Микрополосковые фотонные кристаллы и их использование для измерения параметров жидкостей // ЖТФ. 2010. Т. 80. № 8. С. 143−148.
- Морозов Г.А., Морозов О.Г., Насыбулин А.Р., Севастьянов А.А., Фархутдинов А.Р. Коаксиальные Брэгговские СВЧ-структуры в сенсорных системах // Физика волновых процессов и радиотехнические системы. 2014. Т. 17. № 3. С. 65−70.
- Силин Р.А., Сазонов В.П. Замедляющие системы. М.: Сов. радио. 1966. 631 с.
- Cohn S.B. Direct-coupled-resonator filters. Proc. IRE. 1957. V. 45. Feb. P. 187−196.
- Ozbay E., Temelkuran B., and Bayindir M. Microwave applications of photonic crystals // Progress in Electromagnetics Research. 2003. V. 41. P. 185−209.
- Burns G.W.,Thayne I.G., Arnold J.M. Improvement of Planar Antenna Efficiency When Integrated With a Millimetre-Wave Photonic // Proc. of European Conference on Wireless Technology. Amsterdam. Netherlands. 11−12 thOctober 2004. P. 229−232.
- Hsien-Shun Wu, Ching-Kuang C. Tzuang Miniaturized HighGain Synthetic Rectangular Waveguide Antenna of Near-Omnidirectional Radiation // Proc. of 34rd European Microwave Conf. Amsterdam. Netherlands, 12−14 October 2004. V. 2. P. 1189−1192.
- Усанов Д.А., Горбатов С.С., Кваско В.Ю., Фадеев А.В. Ближнеполевой СВЧ-микроскоп для определения анизотропных свойств диэлектрических материалов // Приборы и техника эксперимента. 2015. № 2. С. 77−83.
