Информативная обработка поля поверхностной медленной волны - микроволновая интроскопия при диагностировании и прогнозировании технического состояния вооружения и военной техники
Аннотация
Приведены методы, позволяющие произвести контроль качества покрытия, локализации и визуализации неоднородностей. Решена задача определения геометрических и электрофизических параметров покрытий. Рассмотрена возможность анализа взаимосвязи структурных уровней поверхности с широким диапазоном идентифицируемых значений показателя Гельдера.
Для цитирования
Дмитриев Д.А., Федюнин П.А., Панов А.А. Информативная обработка поля поверхностной медленной волны - микроволновая интроскопия при диагностировании и прогнозировании технического состояния вооружения и военной техники // Радиотехника. 2007. № 5.