Нелинейная пропускательная эллипсометрия второй гармоники для анизотропного одноосного кристалла в случае, когда оптическая ось лежит в плоскости падения

Рассмотрен новый метод эллипсометрии ? «нелинейная эллипсометрия», позволяющий определить нелинейные характеристики вещества. Отмечено, что используемая в работе модель представляет собой границу двух сред: «воздух - нелинейный анизотропный одноосный кристалл». Приведен случай, когда все волновые векторы лежат в плоскости X0Z главной системы координат. Выведены эллипсометрические соотношения для случая генерации второй гармоники. Рассчитаны и построены угловые спектры нелинейной пропускательной эллипсометрии для одноосных кристаллов (β-борат бария, ниобат лития, прустит) при различной ориентации оптической оси. Показано, что полученные зависимости имеют затухающий характер. Продемонстрирована высокая чувствительность метода при диагностике параметров кристалла.