Формирование математических моделей полупроводниковых приборов для анализа робастности электронных схем
- 1 к.т.н., зав. кафедрой электроснабжения промышленных предприятий, Кумертауский филиал Оренбургского государственного университета
Ключевые слова:
схемотехническое проектированиеэлектронная схемаробастностьматематическая модельполупроводниковый приборэквивалентная схема
Аннотация
Рассмотрены вопросы введения новых возможностей в структуру математического обеспечения системы автоматизированного проектирования электронных схем, которые позволят в дальнейшем производить исследования робастности проектируемых изделий на этапе схемотехнического проектирования.
Для цитирования
Бондарев А.В. Формирование математических моделей полупроводниковых приборов для анализа робастности электронных схем // Нелинейный мир. 2013. № 11. С. 799–805.
Список источников
- Автоматизация проектирования радиоэлектронных средств / под ред. О.В. Алексеева. М.: Высшая школа. 2000.
- Чуа Л.О., Лин Пен-Мин. Машинный анализ электронных схем: Алгоритмы и вычислительные методы. М.: Энергия. 1980.
- Фихтенгольц Г.М. Курс дифференциального и интегрального исчисления. Т. 2. М.: Высшая школа. 1982.
- Бондарев А.В. Вычислительная процедура исследования чувствительности временных характеристик энергетических комплексов / Системы управления и информационные технологии. 2008. № 2(32). С. 21-24.