Применение метода параметрических диаграмм при анализе устойчивости оптических СВЧ-модуляторов
Аннотация
Рассмотрена возможность проведения анализа устойчивости оптических модуляторов, разработанных на основе инжекционных полупроводниковых лазеров, с помощью параметрических диаграмм.
Для цитирования
Алексеев Ю.И. Применение метода параметрических диаграмм при анализе устойчивости оптических СВЧ-модуляторов // Нелинейный мир. 2006. № 3.