Методы фрактальной параметризации поверхностных деформационных субструктур
Аннотация
На примере параметризации модельных сигналов - фрактальной и мультифрактальной броуновских поверхностей - проведено сравнение таких методов фрактального анализа как корреляционный, Фурье- и вейвлет-анализ; показано, что при анализе поверхностей, содержащих несколько структурных уровней, вейвлет-анализ обладает рядом преимуществ: возможностью анализа взаимосвязи структурных уровней поверхности, широким диапазоном идентифицируемых значений показателя Гёльдера, хорошим масштабным разрешением.
Для цитирования
Битюцкая Л.А., Кузнецов П.В., Богатиков Е.В. Методы фрактальной параметризации поверхностных деформационных субструктур // Нелинейный мир. 2005. № 3.