Синергетический подход на основе фрактальных сигнатур в задачах качественной и количественной оценки микрорельефа обработанных поверхностей изделий

Рассмотрены новые подходы к исследованию свойств микрорельефа поверхности материалов, сформированной на основе современных физико-химических неравновесных технологий. Данные подходы и методы были ранее специально разработаны и успешно апробированы при решении радиолокационных задач фильтрации малоконтрастных целей. Методы базируются на теории дробной меры, а в качестве оценочных математических параметров введены фрактальные размерности D, фрактальные сигнатуры и фрактальные кепстры, которые тесно связаны не только с топологией объектов, но и с процессами эволюции динамических систем. Правомерность предлагаемого синергетического подхода подтверждена экспериментально. На основе экспериментальных результатов доказано существование на уровне микрорельефа обработанной поверхности фрактальных кластеров. Рассматриваемые подходы и методы, а также полученные результаты дают дополнительные возможности при исследованиях в разнообразных фундаментальных направлениях науки и техники.