Управление взаимозависимыми автокорреляционными параметрами надежности межсоединений микро- и наноэлектронной аппаратуры для проведения аноповерхностной низкотемпературной термодиффузии

О.И. Атакищев; В.В. Емельянов; В.М. Емельянов; Ю.Н. Кривов

Управление взаимозависимыми автокорреляционными параметрами надежности межсоединений микро- и наноэлектронной аппаратуры для проведения аноповерхностной низкотемпературной термодиффузии

О.И. Атакищев¹, В.В. Емельянов², В.М. Емельянов³, Ю.Н. Кривов⁴

научная статья Страницы: 42-47

^1,2,3,4 Курский государственный технический университет; НПП «ЛАМА» (г. Рыбинск Ярославской обл.)

Ключевые слова: наноповерхностная термодиффузия

Аннотация

Представлены результаты работы по обеспечению требуемых значений параметров надёжности межсоединений многослойных печатных плат (МПП) с учетом построения приборов автоматизированной системы управления технологическими процессами, применяемых с использованием автокорреляционных функций, установленных по результатам форсированных испытаний, с определением режимов процесса наноповерхностной термодиффузии.

Для цитирования

Атакищев О.И., Емельянов В.В., Емельянов В.М., Кривов Ю.Н. Управление взаимозависимыми автокорреляционными параметрами надежности межсоединений микро- и наноэлектронной аппаратуры для проведения аноповерхностной низкотемпературной термодиффузии // Нанотехнологии: разработка, применение - XXI век. 2010. № 2. С. 42–47.

Список источников

Емельянов В. М. Автоматизация управления надежности, физико-механическими и электрическими параметрами межсоединений интегрированной микроэлектронной аппаратуры. Курск: Курск. гос. техн. ун-т. 1998. 311 с.
Атакищев О.И., Емельянов В.В., Емельянов В.М., Ковалевич И.А. Динамическое математическое прогнозирование характеристик надежности по взаимозависимым параметрам межсоединений микроэлектронной аппаратуры на основе многомерных автокорреляционных функций // Секция 8: материалы 27-й военно-научн. конф. 5-6 окт. 2007 г. Войсковая часть 25714. Курск. 2007. С. 89 - 91.
Емельянов В.М., Шуклин И.И., Носорев С.Ю., Емельянов В.В. Моделирование надежностных показателей межсоединений телеметрических систем управления с многомерными корреляционно связанными параметрами // Телекоммуникации. 2009. № 10. С. 42 - 46.
Емельянов В. М., Атакищев О.И., Емельянов В.В., Ковалевич И.А. Решение обратной задачи динамического математического моделирования надежностных характеристик межсоединений силовой микроэлектронной аппаратуры по многомерным автокорреляционным функциям // Материалы ХIII Междунар. конф. и Российской научной школы «Системные проблемы надежности, качества, информационно-телекоммуникационных и электронных технологий в управлении инновационными проектами». Ч.1. М.: Энергоатомиздат. 2008. С. 34, 103.
Емельянов В.М., Емельянов В.В. Решение обратной задачи динамического математического моделирования надежностных характеристик межсоединений силовой микроэлектронной аппаратуры, изготовленной с использованием нанотехнологии // Материалы научно-практ. конф. «Нанотехнологии - производству 2008». г. Фрязино. 2008.

[1] Емельянов В. М. Автоматизация управления надежности, физико-механическими и электрическими параметрами межсоединений интегрированной микроэлектронной аппаратуры. Курск: Курск. гос. техн. ун-т. 1998. 311 с.

[2] Атакищев О.И., Емельянов В.В., Емельянов В.М., Ковалевич И.А. Динамическое математическое прогнозирование характеристик надежности по взаимозависимым параметрам межсоединений микроэлектронной аппаратуры на основе многомерных автокорреляционных функций // Секция 8: материалы 27-й военно-научн. конф. 5-6 окт. 2007 г. Войсковая часть 25714. Курск. 2007. С. 89 - 91.

[3] Емельянов В.М., Шуклин И.И., Носорев С.Ю., Емельянов В.В. Моделирование надежностных показателей межсоединений телеметрических систем управления с многомерными корреляционно связанными параметрами // Телекоммуникации. 2009. № 10. С. 42 - 46.

[4] Емельянов В. М., Атакищев О.И., Емельянов В.В., Ковалевич И.А. Решение обратной задачи динамического математического моделирования надежностных характеристик межсоединений силовой микроэлектронной аппаратуры по многомерным автокорреляционным функциям // Материалы ХIII Междунар. конф. и Российской научной школы «Системные проблемы надежности, качества, информационно-телекоммуникационных и электронных технологий в управлении инновационными проектами». Ч.1. М.: Энергоатомиздат. 2008. С. 34, 103.

[5] Емельянов В.М., Емельянов В.В. Решение обратной задачи динамического математического моделирования надежностных характеристик межсоединений силовой микроэлектронной аппаратуры, изготовленной с использованием нанотехнологии // Материалы научно-практ. конф. «Нанотехнологии - производству 2008». г. Фрязино. 2008.