Эмиссионные свойства линейно-цепочечного углерода

В.В. ХВОСТОВ; В.Г. БАБАЕВ; М.Б. ГУСЕВА; Н.Ф. САВЧЕНКО; О.А. СТРЕЛЕЦКИЙ; Ю.Г. КОРОБОВА; А.Ф. АЛЕКСАНДРОВ

Эмиссионные свойства линейно-цепочечного углерода

В.В. ХВОСТОВ¹, В.Г. БАБАЕВ², М.Б. ГУСЕВА³, Н.Ф. САВЧЕНКО⁴, О.А. СТРЕЛЕЦКИЙ⁵, Ю.Г. КОРОБОВА⁶, А.Ф. АЛЕКСАНДРОВ⁷

научная статья Страницы: 80-87

^5,6,7 Физический факультет МГУ им. М.В. Ломоносова

Ключевые слова: линейно-цепочечный углерод холодная эмиссия эффект Шоттки

Аннотация

Исследованы эмиссионные свойства холодного катода из линейно-цепочечного углерода (ЛЦУ). На основе углеродных микроволокон и порошка, приготовленного из них, изготовлен холодный катод с вольт-амперной характеристикой, отвечающей закону Шоттки с работой выхода 0,4 эВ при нулевом вытягивающем поле и 0,27 эВ при вытягивающем поле 2000 В/мм. Изучена структура волокнистого и порошкового ЛЦУ и ее изменения в процессе формирования и отжига. Показано, что определяющим фактором снижения работы выхода покрытия ЛЦУ является формирование наночастиц из взаимно разориентированных коротких углеродных цепочек.

Для цитирования

ХВОСТОВ В.В., БАБАЕВ В.Г., ГУСЕВА М.Б., САВЧЕНКО Н.Ф., СТРЕЛЕЦКИЙ О.А., КОРОБОВА Ю.Г., АЛЕКСАНДРОВ А.Ф. Эмиссионные свойства линейно-цепочечного углерода // Нанотехнологии: разработка, применение - XXI век. 2010. № 1. С. 80–87.

Список источников

KanM.C., HuangJ.L., SungJ.C.etal. // J. Mater Res. 2003. V. 18. № 7. P. 1594.
ZhuW., BowerC., KochanskiG.P.,JinS. // Diamond Relat Mater. 2001. V. 10. P. 1709.
WangS.G., ZhangQ., YoonS.F.etal. // Diamond RelatMater. 2003. V. 12. P. 8.
GroningO., KuttelO.M., GroningP.,SchlapbachL. // Appl. Surf. Sci. 1997. V. 111. P. 135.
KanM.C., HuangJ.L., SungJ.C.,LiiD.F. // J. Vac. Sci.Technol. B. 2003. V. 21. №4. P. 1216.
ZhuW., KochanskiG.P.,JinS. // Science. 1998. V. 282. - 20. P. 1471.
MayP. W., StefanH., MichaelN.R. etal. // J. Appl.Phys. 1998. V. 84. № 3. P. 1618.
WangS.G., ZhangQ., YoonS.F.etal. // Surface Coatings Technology. 2003. V. 167. P. 143.
Ming-ChiKan, Jow-LayHuang, SungJ.C. etal. // Carbon. 2003. V. 41. P. 2839.
ChenK.H., WuJ.J., ChenL.C.etal. // Diamond Relat
Mater. 2000. V. 9. P. 1249.
ObraztsovA .N., ZakhidovAl.A.,VolkovA.P. // Diamond Relat. Materials. 2003. V. 12. P. 446.
LlieA., FerrariA.C., YangiT., RobertsonJ. // Appl. Phys. Lett. 2000. V. 76. - 18. P. 2627.
YoshimotoG.T, IwataT., MinesawaR. etal. // Jpn. J. Appl. Phys. 2001. V. 40. P. 983.
ОбразцовА.Н., ПавловскийИ.Ю.,ВолковА.П. // ЖТФ. 2001. Т. 71. Вып. 11. С. 89.
РахимовА. Т. // УФН. 2000. T. 70. № 9. C. 996.
TarntairF.G., ChenL.C., WeiS.L.etal. // J. Vac. Sci. Technol. B. 2000. V. 18. - 3. P. 1207.
ShershinE.P. // Appl. Surf. Sci. 2003. V. 215. P. 191.
МодиносA. IIАвто-термо- и вторично-электронная эмиссионная спектроскопия. М.: Наука.1990. 319 с.
ШершинЕ.П. // Структура поверхности и автоэмиссионные свойства углеродных материалов. М.: Изд. МФТИ, 2001. 288 с.
KudryavtsevYu.P., EvsyukovS.E.,GusevaM.B., BabaevV.G.// Carbon. 1992. V. 30. - 2. P. 213.
PCT Patent, International Application Number PCT/IB96/01487 (Russia). Tetracarbon/Moscow State
University. Guseva M.B., Babaev V.G., Novikov N.D. 1996. WO 97/25078.
КупцовА.Х., ЖижинГЛ. Фурье-КР и Фурье-ИК спектры полимеров. М.: Физматлит. 2001. 656 с.
БабаевВ.Г., ГусеваМ.Б.,СавченкоН. Ф. идр. //
Поверхность. Рентген., синхр. и нейтрон, исслед 2004. №3. С.16.
СавченкоН.Ф., ГусеваМ.Б. // Тез. докл. Всесоюзн. симп. «Электронная микроскопия и электронография в исследовании образования, структуры и свойств твердых тел». Звенигород. 1983. Ч. 1. С. 38.
ErgunS., DonaldsonW. F.,SmithW. // Burean of mines
Bulletin USA. 1965. № 620. P. 1.
HeimannR. B., KleimanJ.,SalanskyN. M. // Carbon. 1984. V. 22. №2.с.164.
LouL., NordlanderP. // Phys.i Rev. B. 1996. V. 54. № 23. P. 16659.
PengLiu, YangWei,KailiJiang, QinSun, XiaoboZhang, andShoushanFan // Physical Review B. 2006. V. 73. P. 235412.
ChenY., ShawD., GuoL. // Appl. Phys. Lett. 2000. V. 76. P. 2469.
HsiehC.-T., ChenJ.-M.,KuoR.-R. Huang Y.-H. // Rev. Adv. Mater Sci. 2003. V. 5. P. 459.
Srivastava S.K.,Vankar V.D., SridharRao D. V., and
VikarmKumar // Thin Solid Films. 2006. V. 515.
P. 1851-1856.
Nilsonl L., Groening O., Emmenegger C., Kuettel O.,
Schaller E., Schlapbach L., Kind H., Bonard J. and Kern K. // Applied Physics Letters. 2000. V. 76. P. 2071-2073.
Wen J.G., Huang Z.P., Wang D.Z., Chen J.H., Yang S.X., Ren Z.F., Wang J.H., Calvet L.E., Chen J., KlemicJ.F.andReedM.A. // J. Mater. Res. 2001. V.16. P. 3246-3253.

[1] KanM.C., HuangJ.L., SungJ.C.etal. // J. Mater Res. 2003. V. 18. № 7. P. 1594.

[2] ZhuW., BowerC., KochanskiG.P.,JinS. // Diamond Relat Mater. 2001. V. 10. P. 1709.

[3] WangS.G., ZhangQ., YoonS.F.etal. // Diamond RelatMater. 2003. V. 12. P. 8.

[4] GroningO., KuttelO.M., GroningP.,SchlapbachL. // Appl. Surf. Sci. 1997. V. 111. P. 135.

[5] KanM.C., HuangJ.L., SungJ.C.,LiiD.F. // J. Vac. Sci.Technol. B. 2003. V. 21. №4. P. 1216.

[6] ZhuW., KochanskiG.P.,JinS. // Science. 1998. V. 282. - 20. P. 1471.

[7] MayP. W., StefanH., MichaelN.R. etal. // J. Appl.Phys. 1998. V. 84. № 3. P. 1618.

[8] WangS.G., ZhangQ., YoonS.F.etal. // Surface Coatings Technology. 2003. V. 167. P. 143.

[9] Ming-ChiKan, Jow-LayHuang, SungJ.C. etal. // Carbon. 2003. V. 41. P. 2839.

[10] ChenK.H., WuJ.J., ChenL.C.etal. // Diamond Relat
Mater. 2000. V. 9. P. 1249.

[11] ObraztsovA .N., ZakhidovAl.A.,VolkovA.P. // Diamond Relat. Materials. 2003. V. 12. P. 446.

[12] LlieA., FerrariA.C., YangiT., RobertsonJ. // Appl. Phys. Lett. 2000. V. 76. - 18. P. 2627.

[13] YoshimotoG.T, IwataT., MinesawaR. etal. // Jpn. J. Appl. Phys. 2001. V. 40. P. 983.

[14] ОбразцовА.Н., ПавловскийИ.Ю.,ВолковА.П. // ЖТФ. 2001. Т. 71. Вып. 11. С. 89.

[15] РахимовА. Т. // УФН. 2000. T. 70. № 9. C. 996.

[16] TarntairF.G., ChenL.C., WeiS.L.etal. // J. Vac. Sci. Technol. B. 2000. V. 18. - 3. P. 1207.

[17] ShershinE.P. // Appl. Surf. Sci. 2003. V. 215. P. 191.

[18] МодиносA. IIАвто-термо- и вторично-электронная эмиссионная спектроскопия. М.: Наука.1990. 319 с.

[19] ШершинЕ.П. // Структура поверхности и автоэмиссионные свойства углеродных материалов. М.: Изд. МФТИ, 2001. 288 с.

[20] KudryavtsevYu.P., EvsyukovS.E.,GusevaM.B., BabaevV.G.// Carbon. 1992. V. 30. - 2. P. 213.

[21] PCT Patent, International Application Number PCT/IB96/01487 (Russia). Tetracarbon/Moscow State
University. Guseva M.B., Babaev V.G., Novikov N.D. 1996. WO 97/25078.

[22] КупцовА.Х., ЖижинГЛ. Фурье-КР и Фурье-ИК спектры полимеров. М.: Физматлит. 2001. 656 с.

[23] БабаевВ.Г., ГусеваМ.Б.,СавченкоН. Ф. идр. //
Поверхность. Рентген., синхр. и нейтрон, исслед 2004. №3. С.16.

[24] СавченкоН.Ф., ГусеваМ.Б. // Тез. докл. Всесоюзн. симп. «Электронная микроскопия и электронография в исследовании образования, структуры и свойств твердых тел». Звенигород. 1983. Ч. 1. С. 38.

[25] ErgunS., DonaldsonW. F.,SmithW. // Burean of mines
Bulletin USA. 1965. № 620. P. 1.

[26] HeimannR. B., KleimanJ.,SalanskyN. M. // Carbon. 1984. V. 22. №2.с.164.

[27] LouL., NordlanderP. // Phys.i Rev. B. 1996. V. 54. № 23. P. 16659.

[28] PengLiu, YangWei,KailiJiang, QinSun, XiaoboZhang, andShoushanFan // Physical Review B. 2006. V. 73. P. 235412.

[29] ChenY., ShawD., GuoL. // Appl. Phys. Lett. 2000. V. 76. P. 2469.

[30] HsiehC.-T., ChenJ.-M.,KuoR.-R. Huang Y.-H. // Rev. Adv. Mater Sci. 2003. V. 5. P. 459.

[31] Srivastava S.K.,Vankar V.D., SridharRao D. V., and
VikarmKumar // Thin Solid Films. 2006. V. 515.
P. 1851-1856.

[32] Nilsonl L., Groening O., Emmenegger C., Kuettel O.,
Schaller E., Schlapbach L., Kind H., Bonard J. and Kern K. // Applied Physics Letters. 2000. V. 76. P. 2071-2073.

[33] Wen J.G., Huang Z.P., Wang D.Z., Chen J.H., Yang S.X., Ren Z.F., Wang J.H., Calvet L.E., Chen J., KlemicJ.F.andReedM.A. // J. Mater. Res. 2001. V.16. P. 3246-3253.

Аннотация

Для цитирования

Похожие статьи