Методика вероятностного анализа процесса наблюдения в цифровых тепловизионных системах
- 1 к.т.н., ген. директор, ЗАО «Технологический парк космонавтики «ЛИНКОС»
- 2 вед. инженер, ЗАО «Технологический парк космонавтики «ЛИНКОС» (Москва)
- 3 д.т.н., профессор, заслуж. деятель науки РФ, лауреат премии Правительства РФ, ЗАО «Технологический парк космонавтики «ЛИНКОС» (Москва)
- 4 инженер-программист, ЗАО «Технологический парк космонавтики «ЛИНКОС» (Москва)
Ключевые слова:
оптико-электронная системачастотно-контрастная характеристиканаблюдениеобнаружениераспознаваниеидентификация
Аннотация
Предложено обобщение результатов различных подходов в виде единой методики анализа задачи наблюдения и обнаружительных характеристик тепловизионной оптико-электронной системы. Приведен расчет обнаружительных характеристик конкретной тепловизионной ОЭС.
Для цитирования
Воробьев А.Л., Журик Ю.П., Краснов А.М., Кудимов А.В. Методика вероятностного анализа процесса наблюдения в цифровых тепловизионных системах // Информационно-измерительные и управляющие системы. 2015. № 8. С. 67–82.
Список источников
- Ковалев А.В., Ковалев А.А. Возможности методов неразрушающего контроля // Журнал Мир и безопасность. 2007. № 2.
- Holst G.C. Electro-Optical Imaging System Performance - fifth edition. JCD Publishing and SPIE Press. 2008.
- Vollmerhausen R.H., Jacobs E. The Targeting Task Performance (TTP) Metric A New Model for Predicting Target Acquisition Performance. Modeling and Simulation Division Night Vision and Electronic Sensors Directorate U.S. Army CERDEC Fort Belvoir. VA 22060.
- Gerald C. Holst. Electro-Optical Imaging System Performance - second edition. JCD Publishing and SPIE Press. 2000.
- Berk A., Anderson G.P., Acharya P.K., Hoke M.L., Chetwynd J.H., Bernstein L.S., Shettle E.P., Matthew M.W., Adler-Golden S.M. MODTRAN4 Version 3 Revision 1 USER-S MANUAL. 2003.
- Barten P.G.J.Contrast Sensitivity of the Human Eye and Its Effects on Image Quality (SPIE Press Book). 1999.
- Rachel Hughes.Sensor Model Requirements for TAWS/IRTSS Operation. Naval Postgraduate School. MONTEREY, CALIFORNIA. 2007.
- Vollmerhausen R.H., Reago D.A. Jr., Driggers R.G. Analysis and Evaluation of Sampled Imaging Systems. Bellingham. Wash. SPIE. 2010.
