Автоматизированная измерительная система для исследований радиационной стойкости аналоговых интегральных микросхем
Аннотация
Рассмотрена автоматизированная измерительная система как инструмент для исследований воздействия ионизирующего излучения на изделия микроэлектроники при испытании на радиационную стойкость. Применение системы позволяет получить комплексную картину функциональной и параметрической реакции аналоговых микроэлектронных схем на радиационное воздействие.
Для цитирования
Киселев В.К., Ефимов В.С., Лукичев А.Н. Автоматизированная измерительная система для исследований радиационной стойкости аналоговых интегральных микросхем // Информационно-измерительные и управляющие системы. 2009. № 5. С. 108–112.
Список источников
- Мырова Л.О., Чепиженко А.З. Обеспечение радиационной стойкости аппаратуры связи. М.: Радио и связь. 1983.
- Сайчев В. П., Ефимов В. С., Осокин А. В. К вопросу автоматизации контроля специальных изделий микроэлектроники // Конверсия в машиностроении. 2003. № 2.
- Сайчев В. П., Ефимов В. С., Осокин А. В., Лукичев А. Н. Разработка системы автоматизированного контроля радиационно-стойких изделий гибридной микроэлектроники // Конверсия в машиностроении. 2004. № 4.
- Сайчев В. П., Ефимов В. С., Осокин А. В., Лукичев А. Н. Некоторые вопросы проектирования автоматизированной системы контроля изделий микроэлектроники // Конверсия в машиностроении. 2004. № 4.
- Сайчев В. П., Ефимов В. С., Лукичев А. Н., Стройкова А. В. Применение автоматизированного измерительного комплекса при разработке радиационно-стойких изделий гибридной микроэлектроники // Конверсия в машиностроении. 2005. № 6.
- Коршунов Ф.П., Богатырев Ю.В., Вавилов В.А. Воздействие радиации на интегральные микросхемы. Мн.: Наука и техника. 1986.