Использование вейвлетов для предварительной обработки и определения характеристик спектров катодолюминесценции
- 1,3 к.ф.-м.н., доцент, Калужский филиал МГТУ им. Н.Э. Баумана
- 2 магистр, аспирант, Калужский филиал МГТУ им. Н.Э. Баумана
Аннотация
Разработан алгоритм предварительной обработки и анализа сигналов на основе использования вейвлетов, включающий в себя установление типа случайной составляющей сигнала, сглаживание экспериментальных данных, выделение областей локализации пиков. Выполнена обработка спектра катодолюминесценции карбида кремния, иллюстрирующая работу алгоритма.
Для цитирования
Степанов С.Е., Агу Е.Ю., Захаров В.Ю. Использование вейвлетов для предварительной обработки и определения характеристик спектров катодолюминесценции // Электромагнитные волны и электронные системы. 2016. № 1. С. 15–19.
Список источников
- Абдуллаев О.Р., Габельченко А.И., Иванников П.В., Якунин А.С. Исследования кубического нитрида бора методами ЦКЛ и ЦКЛВСР в растровом электронном микроскопе // Наукоемкие технологии. 2013. № 11. С. 84−88.
- Стрельченко С.С. Перспективы развития отечественной электроники // Наукоемкие технологии. 2014. № 2. С. 4−9.
- Курдюков Д.А., Шишкин И.И, Грудинкин С.А., Ситникова А.А., Заморянская М.В., Голубев В.Г. Исследование структуры пленочных трехмерно-упорядоченных макропористых нанокомпозитов GaN-ZnS:Mn // Физика и техника полупроводников. 2015. Т. 49. № 5. С. 672−676.
- Петров В.И. Катодолюминесцентная микроскопия // Успехи физических наук. 1996. Т. 166. № 8. С. 859−871.
- Pagel M.et al. (ed.). Cathodoluminescence in geosciences. SpringerScience & BusinessMedia. 2013. 514 с.
- Brillson L.J. Applications of depth-resolved cathodoluminescence spectroscopy // Journal of Physics D: Applied Physics. 2012. V. 45. № 18. С. 183001.
- Hooge F.N. 1/f noise sources // IEEE Transactions on Electron Devices. 1994. V. 41. № 11. С. 1926−1935.
- Коржавый А.П., Никифоров Д.К. Математическое моделирование 1/f шума в твердом теле со структурными дефектами // Материалы Всерос. конф. «Математика и механика в современном мире». Калуга. 2001. С. 190−201.
- Никифоров Д.К., Коржавый А.П. Физические основы электрофлуктуационной диагностики дефектности металлических пленок // Материалы Междунар. научно-практич. конф. «Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения». М.: 2003. С. 321−322.
- Gençay R., Gradojevic N. Errors-in-variables estimation with wavelets // Journal of Statistical Computation and Simulation. 2011. V. 81. № 11. С. 1545−1564.
- Donoho D.L., Johnstone J.M. Ideal spatial adaptation by wavelet shrinkage // Biometrika. 1994. V. 81. № 3. P. 425−455.