Метод оценивания внутреннего паразитного излучения оптических трактов инфракрасных систем

А.В. Макаренко; А.В. Правдивцев; А.Н. Юдин

Метод оценивания внутреннего паразитного излучения оптических трактов инфракрасных систем

А.В. Макаренко¹, А.В. Правдивцев², А.Н. Юдин³

научная статья Страницы: 28-37

¹ к.т.н., начальник сектора «Информационно-управляющие системы» ОАО «НПК «Системы прецизионного приборостроения»
² аспирант кафедры «Лазерные и оптико-электронные системы» МГТУ им. Э.Н. Баумана, инженер-исследователь сектора «Программное обеспечение» ОАО «НПК «Системы прецизионного приборостроения»
³ инженер-исследователь сектора «Информационно-управляющие системы» ОАО «НПК «Системы прецизионного приборостроения»

Ключевые слова: математическое моделирование внутренние помехи фоновое излучение оптический тракт оптико-электронные системы инфракрасное излучение

Аннотация

Описан метод, позволяющий моделировать фоновые засветки в оптических трактах теплопеленгационных систем инфракрасного диапазона 3...5 и 8...14 мкм; представлен подход, базирующийся на САПР Zemax и учитывающий излучение и многократные переотражения от линз, оправ и иных конструктивных элементов оптических трактов; модель оперирует реальными материалами и покрытиями и позволяет получать абсолютные значения паразитного потока попадающего на приёмник; показано, что имеется возможность оценивать пространственное распределение потока по поверхности приёмника, а также анализировать вклад каждого из элементов оптического тракта в суммарный паразитный поток.

Для цитирования

Макаренко А.В., Правдивцев А.В., Юдин А.Н. Метод оценивания внутреннего паразитного излучения оптических трактов инфракрасных систем // Электромагнитные волны и электронные системы. 2009. № 12. С. 28–37.

Список источников

Якушенков Ю.Г. Теория и расчёт оптико-электронных приборов. М.: Логос. 1999.
Fischer R. E., Tadic-Galeb B., Yoder P. R. Optical system design. McGraw-Hill. 2008.
Голубь Б.И., Пахомов И.И., Хорохоров А.М. Собственное (тепловое) излучение элементов оптических систем оптико-электронных приборов. М.: Машиностроение 1978.
Криксунов Л.З. Справочник по основам инфракрасной техники. М.: Сов. радио. 1978.
Заказнов Н.П., Кирюшин С.И., Кузичев В.Н. Теория оптических систем. М.: Машиностроение. 1992.
Справочник технолога-оптика / под ред.М.А. Окатова. Изд. 2-е переаб. и доп. СПб.: Политехника. 2004.
Ллойд Дж. Системы тепловидения / пер. с англ. под ред. А.И. Горячева. М.: Мир. 1978.
ОСТ 3-6307-87. Материал оптический поликристаллический марки ПО4.
Кузнечик О.П., Захарич М.П. Статистические характеристики яркости неба в области 0,5-12 мкм. Деп. ВИНИТИ №2495, 1980.

[1] Якушенков Ю.Г. Теория и расчёт оптико-электронных приборов. М.: Логос. 1999.

[2] Fischer R. E., Tadic-Galeb B., Yoder P. R. Optical system design. McGraw-Hill. 2008.

[3] Голубь Б.И., Пахомов И.И., Хорохоров А.М. Собственное (тепловое) излучение элементов оптических систем оптико-электронных приборов. М.: Машиностроение 1978.

[4] Криксунов Л.З. Справочник по основам инфракрасной техники. М.: Сов. радио. 1978.

[5] Заказнов Н.П., Кирюшин С.И., Кузичев В.Н. Теория оптических систем. М.: Машиностроение. 1992.

[6] Справочник технолога-оптика / под ред.М.А. Окатова. Изд. 2-е переаб. и доп. СПб.: Политехника. 2004.

[7] Ллойд Дж. Системы тепловидения / пер. с англ. под ред. А.И. Горячева. М.: Мир. 1978.

[8] ОСТ 3-6307-87. Материал оптический поликристаллический марки ПО4.

[9] Кузнечик О.П., Захарич М.П. Статистические характеристики яркости неба в области 0,5-12 мкм. Деп. ВИНИТИ №2495, 1980.