Лазерные измерительные системы с компенсацией амплитудных погрешностей измерений
- 1 ст. преподаватель кафедры «Автоматика и процессы управления», Московский государственный технический университет «МАМИ»
Аннотация
Рассмотрены три основные причины возникновения амплитудных погрешностей измерений в позиционных ЛИС и предложен способ построения ЛИС, исключающий возможность возникновения данных погрешностей; описан новый тип ЛИС с системой отражённого луча (СОЛ); приведены базовые принципы и структурные схемы построения СОЛ.
Для цитирования
Сиротский А.А. Лазерные измерительные системы с компенсацией амплитудных погрешностей измерений // Электромагнитные волны и электронные системы. 2009. № 10. С. 54–58.
Список источников
- Веденов В.М., Сиротский А.А. Патент РФ №2196300. «Фотоэлектрический способ измерения механических перемещений». 29.06.2001 г.
- Сиротский А.А. Контроль отливок автоматизированными лазерными измерительными системами // Литейщик России. 2002. №7-8. С. 27 -29.