Особенности определения диэлектрической проницаемости тонких слоев коаксиальными зондами

Получено обобщение предложенного ранее point-matching метода определения комплексного коэффициента отражения открытого конца коаксиальной линии, нагруженной на полупространство, на случай слоя конечной толщины; показано, что при измерениях на тонких образцах возбуждаемые на апертуре высшие моды необходимо учитывать даже в случае материалов с малыми значениями диэлектрической проницаемости, для измерения которой на толстых образцах при тех же размерах зонда и частоте достаточно одномодового приближения; представлены оценки сходимости метода в различных случаях.