Оценка погрешности при структурно-аналитическом проектировании СИИС

Юрий Петрович Муха; Ирина Юрьевна Королёва; Александр Владимирович Силкин

Оценка погрешности при структурно-аналитическом проектировании СИИС

Юрий Петрович Муха¹, Ирина Юрьевна Королёва², Александр Владимирович Силкин³

научная статья Страницы: 47-52

¹ д.т.н., профессор, академик Метрологической академии России, кафедра вычислительной техники, ВолГТУ
² к.т.н., доцент, кафедра вычислительной техники, ВолгГТУ
³ студент 6-го курса, факультет электроники и вычислительной техники, ВолгГТУ

Ключевые слова: оценка погрешности сложные информационно-измерительные системы метод структурно-аналитического проектирования

Аннотация

Предложена методика для проведения этапа поверки (оценки погрешности, метрологического анализа) сложных информационно-измерительных систем при структурно-аналитическом проектировании. Приведены итоги проектирования аппарата для диагностического анализа голосового сигнала человека, показывающие работоспособность методики и ее важность для правильной оценки результатов измерений.

Для цитирования

Муха Ю.П., Королёва И.Ю., Силкин А.В. Оценка погрешности при структурно-аналитическом проектировании СИИС // Биомедицинская радиоэлектроника. 2011. № 6. С. 47–52.

Список источников

Берж К. Теория графов и ее применение. М.: Изд-во иностр. лит. 1962. 319 с.
Муха Ю.П., Авдеюк О.А., Королёва И.Ю. Алгебраическая теория синтеза сложных систем: монография. Волгоград: РПК «Политехник». 2003. 320 с.
Муха Ю.П., Королёва И.Ю., Приходькова И.В. Итоги и
перспективы развития структурно-аналитического метода проектирования измерительных систем // Биомедицинские технологии и радиоэлектроника. 2005. № 3. С. 49-56.
Цветков Э.И.Основы математической метрологии. СПб.: Политехника. 2005. 510 с.

[1] Берж К. Теория графов и ее применение. М.: Изд-во иностр. лит. 1962. 319 с.

[2] Муха Ю.П., Авдеюк О.А., Королёва И.Ю. Алгебраическая теория синтеза сложных систем: монография. Волгоград: РПК «Политехник». 2003. 320 с.

[3] Муха Ю.П., Королёва И.Ю., Приходькова И.В. Итоги и
перспективы развития структурно-аналитического метода проектирования измерительных систем // Биомедицинские технологии и радиоэлектроника. 2005. № 3. С. 49-56.

[4] Цветков Э.И.Основы математической метрологии. СПб.: Политехника. 2005. 510 с.