Прогнозирование процесса деградации технических характеристик ИС методом окон с использованием нейронных сетей
Аннотация
Рассмотрено применение нейронных сетей для прогнозирования технических характеристик ИС на примере процесса деградации выходного напряжения низкого уровня () ТТЛ ИС типа 106ЛБ1 по результатам испытаний на долговечность. Исследована зависимость прогнозируемых значений от ширины окна, использующегося в методе, и от глубины прогнозирования.
Для цитирования
Горлов М.И., Строгонов А.В., Арсентьев А. В Прогнозирование процесса деградации технических характеристик ИС методом окон с использованием нейронных сетей // Успехи современной радиоэлектроники. 2008. № 12.