Article or book title, author's surname, DOI

Использование атомно-силовой микроскопии в молекулярной диагностике

Быков В. А.1, Тоневицкий А. Г.2, Агапов И. И.3, Малюченко Н. В.4, Савватеев М. Н.5, Тоневицкий Е. А.6, Мойсенович М. М.7, Кирпичников М. П.8

research article

Abstract

На основе атомно-силовой микроскопии (АСМ) проведен количественный анализ образующихся комплексов с IgM, данные которого хорошо согласовывались с результатами иммуноферментного анализа. В работе показано, что метод детекции иммунных комплексов на основе АСМ позволяет определять наличие специфических антител/антигенов в сыворотке.

How to cite

Быков В.А., Тоневицкий А.Г., Агапов И.И., Малюченко Н.В., Савватеев М.Н., Тоневицкий Е.А., Мойсенович М.М., Кирпичников М.П. Использование атомно-силовой микроскопии в молекулярной диагностике // Наукоемкие технологии. 2005. № 1.