Влияние генерационно-рекомбинационных процессов на комплексную электронную проводимость лавинно-пролетных диодов
Abstract
Теоретически анализируется влияние зависящих от электрического поля генерационно-рекомбинационных процессов, вызванных внешним облучением области размножения носителей постоянным и переменным возбуждающим носители светом, на СВЧ комплексную нелинейную проводимость в ридовской модели лавинно-пролетных диодов (ЛПД). Рассмотрен общий случай и ряд частных случаев.
How to cite
Малышев В.А., Шибаев С.С. Влияние генерационно-рекомбинационных процессов на комплексную электронную проводимость лавинно-пролетных диодов // Радиотехника. 2005. № 10.