Оценка размеров баз биометрических образов для корректного тестирования высоконадежных нейросетевых преобразователей
Abstract
Показано, что для тестирования средств высоконадежной биометрии необходимо создавать реальные базы биометрических образов больших размеров. Знание законов распределения в созданных базах позволяет значительно сократить размеры этих баз, время тестирования устройств и перейти от термина «оценка» стойкости к термину «измерение» биометрической стойкости средств защиты.
How to cite
Малыгин А.Ю., Волчихин В.И., Федулаев В.В., Безяев А.В. Оценка размеров баз биометрических образов для корректного тестирования высоконадежных нейросетевых преобразователей // Нейрокомпьютеры: разработка, применение. 2007. № 12.